PX730i Die Sorting檢查機

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PX730i Die Sorting檢查機
更新日期：2025-10-02 15:39:47

PX730i 設計用於晶片分類、全 6 面檢查和捲帶包裝、

高速Wafer到晶片分類卷帶雙編帶檢查，

並支援Wafer晶片分類托盤輸出。

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